MSEB4S接觸保護(hù)膜直探頭

    MSEB4S保護(hù)膜探頭
MSEB4S保護(hù)膜探頭；MSEB4S接觸保護(hù)膜直探頭；MSEB4S雙晶 (tr) 接觸探頭
上海如慶現(xiàn)貨
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接觸直探頭, 雙晶 (TR)，雙晶 (TR) 接觸探頭
應(yīng)用
?   壁厚余量, 銹蝕, 腐蝕
?   近表缺陷檢測(cè)
?   小零件—螺釘，螺栓，銷釘
?   覆層和堆焊層
?   粘接檢測(cè)
?   火車(chē)車(chē)輪
?   軸，桿，方坯芯部缺陷
?   粗晶材料
 性能用途
?   近表分辨率極佳
?   與曲面和粗糙面耦合好
?   散射噪聲較小
?   對(duì)曲面工件也能沿其輪廓進(jìn)行檢測(cè)
?   歐款有側(cè)裝 Lemo 00 連接口, SEB..KF型Microdot側(cè)裝
?   美款有固定 BNC 電纜 (ADP) 或側(cè)裝 MMD (FDU)

帶組合延遲線的TR（雙晶）-直探頭
SEB4探頭 ，與DA0 . 8G和SEK2C探頭相似
TR探頭M S E B 4 ，形狀與MSEK4相同
TR探頭SEB4KF8
TR指尖探頭SEZ5M5
主要特性：
·獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
·縱波垂直傳輸
·小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
·使用耐磨的塑料延遲線，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
·延遲線由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
·在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
·加上特殊的延遲線（特殊產(chǎn)品）能夠在高溫表面測(cè)量
主要應(yīng)用：
通 常 ： 近 表 面 的 小 缺 陷 探 測(cè) 和 評(píng) 估 。 焦 點(diǎn) 內(nèi) 大 缺 陷 以 及 平 行
于 表 面 分 布 的 缺 陷 檢 測(cè) 。 剩 余 壁 厚 的 測(cè) 量 （ 即 使 在 高 溫 情 況 下）。
SEB..和SEB..0°： 用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷的標(biāo)準(zhǔn)探頭。經(jīng)常用 作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中預(yù)期區(qū)域內(nèi) 小缺陷的探測(cè)（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適合于用作與物 體平面平行的缺陷區(qū)域精確范圍的確定（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣 孔以及厚鋼板中的分隔線）。
MSEB..和MSEB..0°：
常 用 于 所 有 類 型 小 零 件 （ 如 螺 桿 、 螺 釘 、 螺 母 、 銷 釘 、 軸 承
環(huán)、軸承和裝配材料）的檢測(cè)
它 們 也 可 用 于 壁 厚 和 剩 余 壁 厚 的 測(cè) 量 （ 如 被 腐 蝕 和 侵 蝕 的 管 子、容器和機(jī)械零件）。
SEB..KF和SEZ5M5： 體積小巧的小直徑特殊探頭，用于近表面小缺陷的探測(cè)。小巧 的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近 位置的檢測(cè)。



黃銅棒中心缺陷的檢測(cè)
MSEB4探頭金屬融渣裂縫檢測(cè)
MSEB5探頭用于管子彎
曲處剩余壁厚的測(cè)量
SEB10KF3探頭用于管子和
其插口焊接點(diǎn)檢測(cè)
帶組合延遲線的TR-直探頭

特性：非常好的近場(chǎng)分辨率

探頭規(guī)格型號(hào)
類型    a x b(mm)    a x b(in)    頻率MHz    F尺寸    F英寸    備注
SEB1    21?/2??    0.83    1    20    0.8    　
SEB1-EN    21?/2??    0.83    1    20    0.8    符合DIN?EN?12668-2
SEB2    7?x?18    .28?x?.71    2    15    0.6    　
SEB2-EN    7?x?18    .28?x?.71    2    15    0.6    符合DIN?EN?12668-2
SEB2-0°    7?x?18    .28?x?.71    2    30    1.2    晶片角度為0°
SEB2-EN-0°    7?x?18    .28?x?.71    2    30    1.2    符合DIN?EN?12668-2
SEB4    6?x?20    .24?x?.79    4    12    0.5    　
SEB4-EN    6?x?20    .24?x?.79    4    12    0.5    符合DIN?EN?12668-2
SEB4-0°    6?x?20    .24?x?.79    4    25    1    晶片角度為0°
SEB?4-EN-0°    6?x?20    .24?x?.79    4    25    1    符合DIN?EN?12668-2
　    　    　    　    　    　    　
MSEB2    11?/2??    0.43    2    8    0.3    　
MSEB2-EN    11?/2??    0.43    2    8    0.3    符合DIN?EN?12668-2
MSEB4    3.5?x?10    .14?x?.39    4    10    0.4    　
MSEB4-EN    3.5?x?10    .14?x?.39    4    10    0.4    符合DIN?EN?12668-2
MSEB4-0°    3.5?x?10    .14?x?.39    4    18    0.7    晶片角度為0°
MSEB5    9?/2??    0.35    5    10    0.4    典型帶寬100%
　    　    　    　    　    　    　
SEB2KF5    8?/2??    0.31    2    6    0.24    　
SEB4KF8    8?/2??    0.31    4    6    0.24    　
SEB4KF8-EN    8?/2??    0.31    4    6    0.24    符合DIN?EN?12668-2
SEB5KF3    8?/2??    0.31    5    3    0.12    　
SEB10KF3    5?/2??    0.2    10    3    0.12    　
DA0.8G    20?        0.8            
SEZ5M5    3 ?        5            
SEK2C    7×18        2            
MSEK2    11?        2            
MSEK4    3.5×10        4            
SEB10KF3-EN    5?/2??    0.2    10    3    0.12    符合DIN?EN?12668-2
MSEB2S   SEB2S  MSEB4S  SEB4S
可定制特殊規(guī)格
附件
描述    類型    備注
電纜線    SEKG2    用于SEB…，MSB…
電纜線    SEKM2    用于SEB…KF